测厚仪校准主要有选择校准环境与仪器、外观及通电检查、零点校准、标准片校准、线性校准、记录与验证等步骤，以下是详细介绍：
将测厚仪开机预热一段时间，使其性能稳定。
把探头垂直放置在清洁后的试件表面，按下测量键，多次测量取平均值，若测量值不为零，则使用仪器的零点校准功能将读数调整为零。
将探头垂直置于标准片上，稳定接触后读取并记录测量值。
重复测量多次，计算平均值。将该平均值与标准片的标称厚度值进行比较，若偏差超出仪器规定的允许误差范围，则需进行校准调整。
使用仪器配套的校准工具或通过仪器操作界面，按照说明书的指引，对测量值进行调整，直至测量平均值与标准片标称厚度值的偏差在允许范围内。
准备工作
选择校准环境：确保校准环境温度、相对湿度，且周围无强磁场、振动和气流干扰。
准备校准器具：准备标准片，其厚度值应覆盖测厚仪的测量范围；标准片的材质需与被测工件常见材质相符，如钢铁、铝等；还需准备干净的擦拭布、酒精等清洁用品。
仪器检查
外观检查：检查测厚仪外观是否有损坏，显示屏是否清晰，按键是否正常工作。
通电检查：接通电源，检查仪器是否能正常开机，各功能是否运行正常。
校准步骤
零点校准：
选取一块与被测基体材料相同且表面无涂镀层的光滑试件，用擦拭布蘸取少量酒精清洁其表面，等待干燥。将测厚仪开机预热一段时间，使其性能稳定。
把探头垂直放置在清洁后的试件表面，按下测量键，多次测量取平均值，若测量值不为零，则使用仪器的零点校准功能将读数调整为零。
标准片校准：
选取厚度值接近被测涂镀层厚度的标准片，用酒精清洁其表面并干燥。将探头垂直置于标准片上，稳定接触后读取并记录测量值。
重复测量多次，计算平均值。将该平均值与标准片的标称厚度值进行比较，若偏差超出仪器规定的允许误差范围，则需进行校准调整。
使用仪器配套的校准工具或通过仪器操作界面，按照说明书的指引，对测量值进行调整，直至测量平均值与标准片标称厚度值的偏差在允许范围内。
校准记录与验证
记录结果：将校准过程中的测量数据、校准调整情况等详细记录在校准报告中，包括校准日期、校准人员、标准片信息、测量值、调整值等。
验证校准：校准完成后，选取未参与校准的标准片或已知厚度的试件进行验证测量。重复测量多次，检查测量值是否在允许误差范围内，以确认校准的有效性。
